이번 시간은, Murata LC Device의 New Technology인「Shield Robustness」에 대해 소개해드리고자 합니다.
본 내용을 소개 드리기에 앞서, 과거 LC 제품에 대해 소개해드렸던 적이 있는데, 혹시 기억하고 계시나요? 혹시나 잊어버리신 분들을 위해, 간략하게 다시 한번 설명하고 넘어가겠습니다 ^^
LC Device은 LTCC 기술을 사용하여 제작되는 상품으로 LTCC Device라고도 불립니다.
LTCC는 Low Temperature Co-fired Ceramics의 약자로 저온에서 금속과 세라믹 Sheet를 소성하여 만드는 공정 또는 그러한 공정에서 만들어진 결과물을 의미합니다. 그 구조를 간략하게 말씀드리면, 얇은 세라믹 Sheet 위에 Capacitor/Inductor 등의 성분을 금속 선로로써 형성한 후, 이들을 차곡차곡 쌓아 적층화 시킴으로써 만들어지는 구조입니다.
Murata의 LTCC는 하기와 같이 다양한 특징 및 장점들을 가지고 있으며, 이 중에서 새롭게 소개해드리고자 하는 부분이 바로 「Shield Robustness」기술입니다.
LC Device는 이름 그대로, L과 C 성분으로 구성된 제품으로써 Inductance성분과, Capacitance성분을 가지고 있습니다. 또한, Magnetic Flux(자속)과 Inductance는 비례 관계에 있다는 점은 전자공학을 전공하신 분들이라면 쉽게 이해하실 수 있을 것입니다. 따라서, LC Filter 위에 Shield can이 존재하게 되면, Magnetic Flux(자속)이 차단되며, 그로 인해 Inductance 값이 낮아지게 됩니다. Shield Can과의 간격이 얼마나 떨어져 있는가? 또한 굉장히 중요한 사항이며, Shield can과의 거리가 가까울수록 Magnetic Flux(자속) 차단이 심해지는 결과가 됩니다.
이제 Filter의 원리인 공진 주파수 f=1/(2π )를 생각해볼까요? Shield can으로 인해 Inductance가 낮아지게 되면, 공진 주파수는 높아지게 되는 결과가 도출되는 것을 알 수 있습니다. 하기 예시를 보면, Shield can에 의한 자기장 변화의 영향과, 그로 인해 공진주파수가 오른쪽으로 Shift되는 현상을 보여주고 있습니다.
예시에 나타나 있지는 않지만, Shield can과의 간격이 가까웠더라면, 주파수 Shift는 더욱 더 많이 일어났을 것입니다.
Murata는 이러한 영향으로 인해, 실제 고객의 Set 위에서 발생할 수 있는 Demerit를 없애기 위한 방법을 고민한 결과, 「Shield Robustness」 기술이 탄생하게 되었습니다. 하기와 같이 Device위에 Shield가 있음에도 자기장 / 자속 변화를 억제해줄 수 있는, Shield robustness 기술 개발을 통해, 고객에게 더 좋은 Solution을 제공하기 위한 노력을 지속하고 있습니다.
written by. 한국무라타전자 기술지원팀 최정균
※그림 및 영상 출처 : 무라타 웹사이트
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<About Murata>
Murata Manufacturing Co., Ltd.는 무라타 제작소는 세라믹을 기반으로 전자부품의 개발・생산・판매를 하고 있으며 세계적인 통합전자부품 기업입니다. 독자적인 개발 및 재료 개발, 프로세스 개발, 상품 설계, 생산 기술들을 서포트하는 소프트웨어나 분석 · 평가등의 기술 기반으로 독창적인 제품을 창출해 일렉트로닉스 사회의 발전에 기여해 갈 것입니다.
